ガラス、プラスチックの開発・品質管理に！！
精密屈折計ＫＰＲ－２００ |
- ■特長
-
- 試料をセットしてスタートボタンを押せばコンピュータで設定した測定条件に従って自動測定します。
- 自動光電検出とコンピュータ制御で高い精度と再現性が得られます。３波長の測定時間は、わずか５０秒です。
- 今まで測定が困難であった複屈折の強弱を、試料の光強度を測定することにより可能にしました。
- 試料とＶブロックプリズムの間に屈折液を使用するため、２面を９０度に加工すればスリ面のままで測定できます。
- ■用途
- 新素材、ガラスなどの透明試料の屈折率、複屈折率測定
- 透明液体の屈折率測定
- ■多彩なオプション
- 最大１０波長まで取り付け可能ですので、ユーザが自由に必要な波長が選択できます。（注１）
- ユーザが使いやすくするするために独自のオリジナル制御ソフトも作成しております。（注２）
- 注１：波長の組み合わせによっては、選択できない場合もあります。
- 注２：本体価格に含まれておりません。別途料金となります。
- ■操作画面
- 制御ソフトは、Windows版ですのでグラフィカルでわかりやすい操作を実現しました。
- 市販の表計算ソフトなどでデータが読み込めますので資料作りにも最適です。
- 仕様
| 測定範囲 |
屈折率 1.25～2.00 No1プリズム：1.25～1.70 No2プリズム：1.50～2.00
|
|
測定精度
|
屈折率 ±0.00005（室温２３℃時）
|
|
測定再現性
|
屈折率 ±0.00002（室温２３℃時）
|
| 測定波長範囲 |
365nm～830nm |
|
測定波長
|
標 準 |
- ｄ線 587.6nm Heランプ
- Ｃ線 656.3nm H2ランプ
- Ｆ線 486.1nm H2ランプ
|
|
オプション |
- ｇ線 435.8nm Hgランプ
- ｅ線 546.1nm Hgランプ
- Ne-Ne 632.8nm He-Neレーザ
- Ｌ．Ｄ 780 nm 半導体レーザ
- Ｌ．Ｄ 830 nm 半導体レーザ
- Ｃ’線 643.9nm Cdランプ
- Ｆ’線 480.0nm Cdランプ
- Ｌ．Ｄ 1300 nm 半導体レーザ
- Ｌ．Ｄ 1500 nm 半導体レーザ
|
|